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APT-1400F

Das schnellste Flying-Probe-Testsystem weltweit!

Das Flying-Probe-Testsystem (FPT) TAKAYA APT-1400F setzt neue Maßstäbe in der Elektronikfertigung und bietet eine herausragende Kombination aus Geschwindigkeit, Testabdeckung und Zuverlässigkeit. Das System ist speziell für den Test von komplexen Baugruppen und großen Stückzahlen entwickelt worden. Das APT-1400F verfügt über 6 fliegende Messsonden, von denen zwei vertikal positioniert sind um so den Zugriff auf bisher schwer erreichbare Kontaktpunkte zu ermöglichen.

Das APT-1400F kennt keine Kompromisse zwischen Geschwindigkeit, Zuverlässigkeit und einer langen Lebensdauer. Das Design des X/Y-Tisches wurde optimal an die hohe Verfahrgeschwindigkeit der Prüfnadeln sowie an die mechanische Konstruktion der Achsen angepasst. Eine hochgenaue Messeinheit und zahlreiche innovative Testalgorithmen ermöglichen eine deutliche Steigerung der Testabdeckung auf Ihren Baugruppen.

Als führender Anbieter im Bereich Flying-Probe-Tester setzt TAKAYA kontinuierlich auf Innovationen, um Baugruppentestsysteme auf höchstem Niveau zu bauen. Zusätzlich bieten wir einen Flying-Probe-Testservice für Unternehmen an, die noch kein eigenes Flying-Probe-Testsystem besitzen.

Kontaktieren Sie uns für maßgeschneiderte Elektroniktestlösungen und erfahren Sie mehr über die optimale Prüftechnologie für Ihre Anforderungen!

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TAKAYA APT 1400F

TAKAYA APT 1400F

Mehrwerte

  • 4 Köpfe mit 6 fliegenden Messsonden für den Flying-Probe-Test von oben
  • Ultraschnelle X/Y/Z-Motoren und -Steuerungen
  • 50% schneller als herkömmliche Flying-Probe-Testsysteme
  • Hochgenaue Antastung auch für kleinste Kontaktflächen bis 60 µm mit Soft-Touch-Control
  • Messelektronik direkt auf den Prüfköpfen integriert, für beste Signalintegrität
  • Neuentwickelte flexible Baugruppenaufnahme
  • CAD- und BOM-Import
  • Automatischer Testprogrammgenerator
  • Leistungsfähige Debug-Werkzeuge
  • Color-Real-Map-Funktion zur grafischen Ansicht der Baugruppe und Kontaktpunkte
  • Optionen: Transportsystem mit automatischer Breitenverstellung und SMEMA-Schnittstelle, IC-Open-Sensoren, LED-Tests, optische Tests, Funktionstests, u .v. m.

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