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MXI-Systeme

X-eye NF120-Serie

Hochauflösende 3D-CT-Nanofokus-Inspektion für Halbleiter und Wafer

Die Nano-Fokus-Röhre mit einer Auflösung von 200 nm ist speziell für die Halbleiterfertigung und das Wafer-Level-Packaging (WLP) geeignet, bei denen Bereiche im Submikrometerbereich inspiziert werden müssen.

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