Das SF160FCT ist ein hochauflösendes Mikrofokus-Röntgensystem zur Prüfung von Halbleitern, Leiterplattenbaugruppen und elektronischen Bauteilen. Dank seiner hervorragenden Bildgebung können selbst kleinste, versteckte Defekte in hoher Auflösung erkannt werden.
Das SF160FCT ist mit einer offenen 160-kV-Mikrofokusröhre mit 0,8 µm Messfleckgröße ausgestattet. Das System kann das Objekt bis zu 4.800-fach vergrößern und das Röntgenbild mithilfe der 6-Achsen-Manipulatorkonfiguration aus jedem beliebigen Winkel darstellen.
Mittels 3D-CT (Computertomographie) visualisiert das System alle verborgenen Strukturen und sogar Mikrodefekte im Objekt.
Die einzigartige Schräg-CT-Technologie von SEC ermöglicht eine stark vergrößerte 3D-CT-Visualisierung großer Proben. CT-Scans sind normalerweise durch die Objektgröße begrenzt. Die Schräg-CT-Technologie von SEC überwindet diese Größenbeschränkung und kann für Leiterplattenbaugruppen, große Multilayer-Platinen und sogar Halbleiterwafer angepasst werden.