Die APT-2400F ist ein einseitiges und leistungsstarkes Testsystem mit 4 Achsen und 6 Flying Probes. Es kontaktiert extrem kleine Pads von bis zu 50 µm auf kleinsten Leiterplatten präzise und führt Tests in einer atemberaubenden Geschwindigkeit durch. Mit einem neu entwickelten Messsystem und einer breiten Palette an Testfunktionen wird die Prüfabdeckung deutlich erhöht. Die APT-2400F-Serie bietet verschiedene Modelltypen die alle eines gemeinsam haben: Sie reduziern die Testkosten vom Prototyping bis zur Sereienproduktion bei gleichzeitiger Verbesserung der Produktqualität. Das System ist als Standalone- und In-Line System erhältlich.
Die APT-2400 Systeme verfügen über ein neues optisches System mit CMOS-Kamera und einer „Liquid Lens“. Diese unterstützt die Autofokus-Funktion, 3D-Real-Map und OCR. Ebenso ermöglicht eine separate Remotekamera die Überwachung der Prüfprozesse in der Fertigung und unterstützt das Remote-Debugging, ohne dass Sie in der Nähe des Systems sein müssen. Aufgrund des neuen Servo-Control Systems bieten die neuen Systeme die „Zero Impact“-Option. Die neue Steuerung reduziert die Probengeschwindigkeit kurz vor dem Kontakt auf Null und nutzt zum Kontaktieren nur den Federdruck der Nadel. Dadurch wird eine sanfte Kontaktierung ermöglicht und der Anpressdruck auf den Kontaktpunkt erheblich reduziert. Dies gewährleistet eine schonende Kontaktierung auch bei empfindlichen Leiterplatten. Ein neuartiges Reinigungssystem für die Proben sorgt dafür, dass diese von Flussmitteln und Verunreinigung befreit werden und somit optimale Messergebnisse garantiert sind. Neu sind auch die Temperatursensoren, welche es ermöglichen, die Temperatur von Halbleitern und temperaturabhängigen Bauteilen in die Messung mit einfließen zu lassen und anhand des Temperaturkoeffizienten den Kennlinienverlauf zu ermitteln.
Die Neuheiten im Überblick:
- Proben-Reinigungssystem
- High-Perfomance-Messeinheit
- Kennlinien(V-I)-Messungen
- integrierte IC-Open-Kalibrierung
- Soft Touch mit „Zero Speed“-Option
- 26bit High-Resolution-Servo-Control-System
- kleinste Kontaktfläche: 50 µm
- CMOS-Farbkameras mit Flüssiglinse
- Autofokus
- Schriftlesung / Optical Charakter Recognition (OCR) (Neu)
- 2-fache Laterale Beleuchtungseinheit (Neu)
- Remote-Kamera
- 3D-Color-Real-Map-Funktion zur grafischen Ansicht der Baugruppen
Die Features:
Antriebstechnik und Mechanik (inkl. Optionen)
- Einzigartige Mechanik mit 4 Köpfen & 6 Flying Probes
- Ultraschnelle XYZ-Servo Motoren und Steuerungen
- langlebiges Design der Achsen und des XY-Tisches aus Granit
- Hochflexible „Composite Robot“ Longlife-Mess- und Steuerleitungen
- Soft Touch Control
- Messelektronik direkt auf den Prüfköpfen
- flexible Baugruppenaufnahme
- Transportsystem mit automatischer Breitenverstellung
- SMEMA- und HERMES-Schnittstelle
- MES-Kommunikation mittels OPC UA
- Long Board Testing bis 890 mm (Transportsystem erforderlich)
Messeinrichtung (inkl. Optionen)
- 16 Bit DAC/ADC Messeinrichtung inkl. 3 x DC 4-Quadranten Spannungsversorgungen
- R-, L-, C-Messungen
- Messspannung einstellbar bis < 0,1V
- Kelvin-Messungen
- Guardfunktionen
- Dioden & Zenerdioden Messfunktionen
- Transistoren/FET/Optokoppler/Relais/etc.
- DC/AC Strom- und Spannungsmessungen
- Spannungsregler/Operationsverstärker/Transformatoren
- Isolationsmessungen
- Durchgangsmessungen
- Frequenzmessungen
- AC-Signalgenerator
- Cluster-Tests
- IC Open Sensoren
- 2 LED-Sensoren (Farbe und Intensität)
- Laser für Höhenmessungen (Verwölbung und Bauteile)
- Net Signal Wave (Signaturanalyse)
- Integration externer Spannungsversorgungen und Prüfsysteme
Optisches System (inkl. Optionen)
- High-Resolution-CMOS-Farbkamera
- Autofokus
- LED-Ringlichtbeleuchtungen
- Positionskorrektur (Versatz, Verdrehung, Schrumpfung)
- Erkennung von verpolten, fehlenden, versetzten oder falschen Bauteilen
- 1D- und 2D-Barcodeerkennung
- Farberkennung von Bauteilen