ICT-Systeme

Der In-Circuit-Test (ICT) hat sich in den vergangenen Jahren stark verändert, ist aber – gerade im Bereich hoher Volumina – immer noch eine der zuverlässigsten Testmethoden. Als Ergänzung zu den Resultaten eines AOI-Systems liefert er im analogen Bereich exakte Bauteilwerte und prüft integrierte digitale oder hybride Schaltungen auf deren Funktion.

Voraussetzung für eine gute ICT-Testabdeckung ist, dass die Baugruppe für dieses Testverfahren auch ausgelegt ist – was in der Realität immer schwieriger wird. Die voranschreitende Miniaturisierung, hohe Packungsdichten sowie Kostendruck erschweren es, die benötigten Testpunkte überhaupt vorzusehen.

Die ICT-Systeme von Dr. Eschke zeichnen sich durch ihre hohe Skalierbarkeit aus. So kann ein für ein bestimmtes Projekt beschafftes MDA-System (MDA = Manufacturing Defect Analyzer) bei Bedarf jederzeit zu einem leistungsfähigen In-Circuit-Tester mit Digitalfunktionalität oder zu einem Funktions- oder Kombinationstestsystem hochgerüstet werden.

Mit unseren erfahrenen Applikations-Spezialisten sind wir in diesem Bereich auch als Testhaus tätig. Wir beraten Sie gern, wenn Sie Fragen zum DFT (Design for Testability), resp. zur Testbarkeit einer Baugruppe, oder zur Erstellung eines In-Circuit-Testprogramms haben.