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Automatische 3D-Röntgeninspektion mittels Computertomografie (CT)

3D-AXI-Systeme

Zuverlässige 3D-Inline-Inspektion für anspruchsvollste Aufgaben

CT-basierte 3D-AXI Systeme von Omron ermöglichen eine extrem schnelle und echte automatische 3D-Inline-Röntgeninspektionund das auch dort, wo andere Systeme kapitulieren, also beispielsweise unter BGA-Gehäusen oder bei gestapelten Bauteilen (PoP).

Dabei hebt sich die Omron-AXI-Technologie durch ihr einzigartiges Computertomographie-Verfahren (CT) vom Wettbewerb ab, da mit ihm bis zu mehrere hundert Schnittebenen von durchleuchteten Komponenten aufgenommen werden können, wodurch echte 3D-Modelle (Volumendatensätze) generiert werden. Die meisten AXI-Systeme von Marktbegleitern, die mit dem Zusatz „3D“ angeboten werden, erstellen lediglich einige wenige 2D-Aufnahmen von weit voneinander entfernt liegenden übereinander angeordneten Schnittebenen. Die daraus resultierenden Daten sind jedoch keine echten 3D-Daten, sondern lediglich 2D-Stichproben-Röntgenbilder aus verschiedenen Höhen. Defekte, Artefakte oder Fremdkörper, die sich genau zwischen diesen Ebenen befinden, können mit diesen Pseudo-3D-AXI-Systemen somit gar nicht gefunden werden.

Die von den Omron-AXI-Systemen aufgenommenen echten 3D-Volumendatensätze können hingegen komplett von der Analyse-Software des Systems auf Unregelmäßigkeiten durchsucht werden – also nicht nur in einigen wenigen 2D-Schnittebenen. Auch eine spätere Rekonstruktion von Volumendatensätzen ist mit Programmen wie VGSTUDIO möglich, wodurch z.B. bestimmte Fehler von aussortierten Produkten anschaulich visualisiert und diskutiert werden können. Die 2D-Aufnahmen von einzelnen Schnittebenen, die mit Pseudo-3D-AXI-Systemen des Wettbewerbes aufgenommen wurden, lassen sich hingegen nur schwer interpretieren und natürlich auch nicht zu einer Rekonstruktion kompletter 3D-Strukturen verwenden.

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OMRON VT-X850 Serie

Automatisches CT-Röntgeninspektionssystem (3D-AXI)

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OMRON VT-X750 Serie III

Automatisches 3D-Inline-CT-System OMRON VT-X750 mit Analysefunktionen für höchste Testtiefe

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