Die Tischversion der CT-350-Serie von Dr. Eschke lässt sich skalierbar als MDA-System, In-Circuit-Test (ICT)-, FKT- oder leistungsfähiger Kombinationstester konfigurieren und ist präzise auf jede Kundenanforderung abstimmbar. Als modulares und kompaktes ICT-System eignet sich das Gerät ideal sowohl für die Fertigung als auch für Entwicklung und Service. Die High-Pin-Count-Pylon-Schnittstelle begünstigt den schnellen Adapterwechsel und sorgt für eine zuverlässige Kontaktierung.
Beim CT350 Meteor, handelt es sich um ein flexibel einsetzbares Highspeed-Mixed-Signal-Test-System für den Semiconductor- und Komponententest, das eine konfigurierbare und modulare Systemstruktur bietet. Durch die direkte Kopplung des Prüflings über ein Performance-Board wird eine maximale Testgeschwindigkeit von 300 MS/s digital und 1 GS/s analog (bei optimaler Platzausnutzung und Rüstzeit des Systems) erreicht. Das System verfügt über Waveform-Generatoren, Digital-Scope-Funktionen, Strom- und Spannungsquellen für den analogen Funktionstest bis 80 V, präzise 24-Bit-Messkanäle und Stromversorgungsmodule bis 11 A. Die Kommunikation mit dem Steuer-PC erfolgt über das USB2-Interface.
Das Testsystem stellt 442 Mixed-Signal-Testkanäle bereit. Durch den Einsatz weiterer Module im Tester ist eine Erweiterung der Kanalzahl bei Bedarf auf mehr als 1000 Kanäle möglich.
Das Softwarepaket zu dieser Serie verfügt über eine einfach zu bedienende grafische Bedienoberfläche und ermöglicht eine kurzfristige Testprogrammerstellung durch Pattern-Generatoren, Teach-in-Funktionen und Konvertierungsfilter für den Im- und Export von Testvektoren.
Die offene Systemarchitektur ermöglicht eine Kopplung und Synchronisation mit externen Geräten und die Ergänzung applikationsspezifischer Software.
Der in die Tester-Software integrierbare Boundary-Scan-Test ermöglicht eine zusätzliche Erhöhung der Testabdeckung.